21. IDDQ testing of VLSI circuits
پدیدآورنده : edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Metal oxide semiconductors, Complementary - Testing,Iddq testing
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
22. #Introduction to I_D_D_Q testing
پدیدآورنده : #by Sreejit Chakravarty and Paul J. Thadikaran
موضوع : Iddq testing ،Digital integrated circuits- Testing ،Integrated circuits- Very large scale integration- Testing
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
23. Introduction to VLSI testing
پدیدآورنده : Robert J. Feugate, Jr., Steven M. McIntyre
موضوع : Integrated circuits--Very large scale integration--Testing
۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
24. Introduction to VLSI testing
پدیدآورنده : Feugate, Robert J.
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
رده :
TK
7874
.
F48
1988
25. Introduction to VLSI testing
پدیدآورنده : Feugate, Robert J.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
F48
1988
26. LSI/VLSI testability design
پدیدآورنده : Tsui, Frank F.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Large scale integration - Testing ، Integrated circuits,Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
T78
1987
27. #LSI/VLSI testability design
پدیدآورنده : #Frank F. Tsui
موضوع : Integrated circuits -- Large scale integration -- Testing ،Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
۴ نسخه از این کتاب در ۴ کتابخانه موجود است.
28. Power- constrained testing of VLSI circuits
پدیدآورنده : Nicolici, Nicola
کتابخانه: (سمنان)
موضوع : Testing ، Integrated circuits, Very large scale integration,Protection ، Integrated circuits, Very large scale integration,Thermal properties ، Semiconductors
رده :
TK
7874
.
75
.
N5P6
29. Rapid reliability assessment of VLSICs
پدیدآورنده : A.P. Dorey ... (et al.)
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Integrated circuits - Very large scale integration - Reliability
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
30. Reasoning in Boolean networks
پدیدآورنده : / by Wolfgang Kunz and Dominik Stoffel
کتابخانه: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Integrated circuits, Very large scale integration, Testing, Data processing,Integrated circuits, Verification, Data processing,Logic design, Data processing
رده :
TK7874
.
K866
1997
31. Reasoning in Boolean networks: logic synthesis and verification using testing techniques
پدیدآورنده : Kunz, Wolfgang
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing,، Integrated circuits-- Verification-- Data processing,، Logic design-- Data processing
رده :
TK
7874
.
K866
1997
32. Reasoning in boolean networks : logic synthesis and verification using testing techniques
پدیدآورنده : Kunz, Wolfgang
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Testing -- Data processing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,Data processing ، Integrated circuits -- Verification,Data processing ، Logic design
رده :
TK
7874
.
K866
1997
33. Self-testing VLSI design
پدیدآورنده : V.N. Yarmolik, I.V. Kachan
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Integrated circuits - Very large scale integration - Design
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
34. System-on-chip test architectures : nanometer design for testability
پدیدآورنده : edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Testing ، Systems on a chip,Testing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,Design ، Integrated circuits -- Very large scale integration
رده :
TK
7895
.
E42S97
35. System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : Testing ، Systems on a chip,Testing ، Integrated circuits-- Very large scale integration,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design
رده :
TK
7895
.
E42
.
S978
2008
36. Test and diagnosis for small-delay defects
پدیدآورنده : / Mohammad Tehranipoor, Ke Peng and Krishnendu Chakrabarty
کتابخانه: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Integrated circuits--Very large scale integration--Defects,Integrated circuits--Very large scale integration--Testing,Delay faults (Semiconductors)
رده :
TK7874
.
T4323
2011
37. Test generation of crosstalk delay faults in VLSI circuits
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Integrated circuits ; Very large scale integration ; Testing. ;
38. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
پدیدآورنده : edited by Fabrizio Lombardi and Mariagiovanna Sami
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Very large scale integration - Testing - Congresses ، Integrated circuits,Ultra large scale integration - Testing - Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
N345
1987
39. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
پدیدآورنده :
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Congresses,، Integrated circuits-- Ultra large scale integration-- Testing-- Congresses
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
40. Testing and diagnosis of VLSI and USLI
پدیدآورنده : Edited by Fabrizio Lombardi and Maria Giovannasami
کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (طهران)
موضوع : Integrated circuits--Very large scale integration - Testing-Congresses
رده :
TK
7874
.
N345
1987